بررسی و مقایسه ریزنشت nanofilled resin modified glass ionomer و conventional glass ionomer در حفرات کلاس v با استفاده از دو نوع باندینگ self etch adhesive و self etch primer

زمینه و هدف: ریزنشت به عنوان معیاری جهت ارزیابی موفقیت هر ماده ترمیمی مطرح بوده و دستیابی به سیل مناسب نیز در مارجین ها مشکلات خاص خود را دارد، به ویژه در مارجین های عاجی بسیار مشکل تر از مینای دندان می باشد. تحقیق حاضر با هدف مقایسه ریزنشت در مارجین های مینایی و عاجی حفره های کلاس v در دو نوع gi با استفاده از دو نوع باندینگ مختلف self etch انجام شد. روش بررسی: در سطوح باکال و لینگوال 40 دندان مولر، حفره های کلاس v تهیه شد؛ طوری که مارجین اکلوزالی حفرات در مینا و مارجین ژنژیوالی آن ها 1 میلی متر پایین تر از cej قرار بگیرد. دندان ها به 4 گروه تقسیم شدند:گروه 1:fuji ix ، g bond گروه 2: fuji ix، se bond گروه 3: gcp glass fill، g bond گروه 4: gcp glass fill، se bond. نمونه ها تحت چرخه های حرارتی قرار گرفتند؛ میزان ریز نشت اندازه گیری شد. جهت مقایسه ریزنشت از آزمون kruskal-wallis و برای مقایسه دو به دوی آن ها از تصحیح bonferroni استفاده شد (05/0p≤). یافته ها: رتبه های ریزنشت در دیواره اکلوزال و ژنژیوال تمام گروه های آزمایشی برابر بوده است. در دیواره ژنژیوال، کمترین رتبه های ریزنشت مربوط به گروه fuji ix+se bond بوده و تفاوت آن با گروه های fuji ix+g bond و nanoglass+g bond معنی دار بود (05/0p≤). در دیواره ی اکلوزال؛ کمترین ریزنشت در گروه fuji ix+se bond دیده شد که با هر 3 گروه دیگر تفاوت معنی داری داشته است (05/0p≤). نتیجه گیری: استفاده از se bond در مقایسه با g bond در کاهش میزان ریزنشت انواع سمان های گلاس آینومر fuji ix) و (gcp glass fill مؤثر بوده است.